Поиск

Мониторинг рынка цен по расчёту НМЦ № 424365 "микроскоп"

Инспекционный микроскоп Olympus MX63

Инспекционный микроскоп Olympus MX63

Мониторинг рынка цен по расчёту НМЦ № 445000 "Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 Jeol"

Мониторинг рынка цен по расчёту НМЦ № 445000 "Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 Jeol"

Разовая закупка видеоизмерительного микроскопа Разовая закупка видеоизмерительного микроскопа

Мониторинг рынка цен по расчёту НМЦ № 416240 "Поставка Микроскопа CX-200 Plus Coxem или аналог"

Анализатор структур многомасштабный на базе оптического микроскопа Axio Imager 2

Поставка микроскопа электронного растрового

Микроскопы стереоскопические панкратические МСП-1 (вариант 22М) -8 шт. и МСП-1 (вариант 23) -8 шт.

Техническое обслуживание растрового (сканирующего) микроскопа Jeol JSM-6490LV с микроанализатором энергодисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 250, заводской № MP 14720020, регистрационный № 1600033854. Техническое обслуживание растрового (сканирующего) микроскопа Jeol JSM-6490LV

Техническое обслуживание растрового электронного микроскопа Quanta Inspect S D-8661 и систем микроанализа производства компании EDAX Комплекс услуг по техническому обслуживанию растрового электронного микроскопа Quanta Inspect S D-8661 и систем микроанализа производства компании EDAX

Работы по ремонту сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) CARL ZEISS MICROCOPY модель LS-15-BU-W

Работы по ремонту сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) CARL ZEISS MICROCOPY модель LS-15-BU-W

оказание услуг по проведению технического обслуживания сканирующего электронного микроскопа Quanta Inspect S

оказание услуг по техническому обслуживанию сканирующего электронного микроскопа Quanta Inspect S

оказание услуг по техническому обслуживанию сканирующего электронного микроскопа Quanta Inspect S

оказание услуг по диагностики неисправности вакуумной системы электронного микроскопа Carl Zeiss Sigma

оказание услуг по техническому обслуживанию сканирующего электронного микроскопа Quanta Inspect S

Поставка оптических металлографических инвертированных микроскопов с камерами, раб.станциями и програмн.обеспечением для анализа и обработки полученных изображений