Комплектующее для измерения толщины тонких пленок, формируемых для процессов фотолитографии с длиной волны излучения эксимерного лазера 248 нм (KrF), входящее в состав испытательного стенда для проведения технологических испытаний и отладки технологических режимов для ОО "Трек-200" – эллипсометр
№ 4639074
до 20.10.2026 16:29, по МСК
5 дней 23 часа
- Приём заявок
- Рассмотрение
- Завершена
Позиции и цены
Всего 1 позиция без указания максимальной цены.без НДС
№ | Позиция | Максимальная цена без НДС, ₽ | Количество | Единица измерения | Максимальная стоимость без НДС, ₽ | НДС, % | Заявки |
|---|
| | | | | | | |
| 1 | Комплектующее для измерения толщины тонких пленок, формируемых для процессов фотолитографии с длиной волны излучения эксимерного лазера 248 нм (KrF), входящее в состав испытательного стенда для проведения технологических испытаний и отладки технологических режимов для ОО "Трек-200" – эллипсометр | – | 1 | Штука | – | – | 0 |
Всего: 1 из 1
На странице
10